RAMAN AFM
TT-2 AFM · 301-1356_2
1장비 정보
담당자 확인 후 예약 승인
모델명
TT-2 AFM
장비 위치
301-1356_2
장비담당자
이세준
담당자 이메일
swy04091@snu.ac.kr
실험실 연락처
010-7332-7496
교육 필요 여부
장비 교육 후 신청자가 장비 사용
2장비 제원
스캐너타입 : Modified tripod
XY 최대 측정 영역 : <50um
Resolution : 1nm open loop
XY 선형성 : < 1%
XY 센서타입 : Strain gauge
Z 최대 측정 영역 : <17um
Z feedback noise : <0.15nm
Z 센서타입 : Strain gauge
3간략한 장비 용도 설명
- 라만 분광법(Raman spectroscopy)과 원자힘현미경(AFM, Atomic Force Microscopy)을 결합한 복합 분석 장비입니다.
- 이 장비는 하나의 시료에 대해 화학적 정보(Raman)와 표면 형상 및 기계적 특성(AFM)을 동시에 측정할 수 있도록 설계되었습니다.